北京华海恒辉科技有限公司

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供应覆层测厚仪HS2100/3100/4100
供应覆层测厚仪HS2100/3100/4100
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供应覆层测厚仪HS2100/3100/4100

型号/规格:

覆层测厚仪HS2100/3100/4100

品牌/商标:

HS2100/3100/4100

产品信息

适用范围:   HS系列覆层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法,可*地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
主要功能: 可使用6种测头(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)进行测量;
三种校准方法: 一点校准、二点校准、基本校准;
显示分辨率: 0.1μm(测量范围小于100μm)
1μm (测量范围大于100μm)
有两种工作方式:直接方式和成组方式
有两种测量方式:连续测量和单次测量
有两种关机方式:手动关机和自动关机
可设置限界:对限界外的测量值能自动报警,并可用直方图对一批测量值进行分析;
有删除功能:对*误差及错误设置可进行删除处理;
打印功能:可打印测量测量值、统计值、限界、直方图
测量范围: (1)F400探头、N400探头:0—400μm
(2)F1探头、F1/90探头、N1探头:0—1250μm
(3)F10探头:0—10000μm
(4)CN02探头:10-200μm(根据测量要求选用不同探头)
测量精度: 不同探头精度要求不同
(1)F400探头、N400探头:一点校准:(2%+0.7);二点校准:(1%+0.7)
(2)F1探头、F1/90探头、N1探头、CN02探头:一点校准:(2%+1);二点校准:(1%+1)
(3)F10探头:一点校准:(2%+10);二点校准:(1%+10)